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Surface structure and analysis with scanning probe microscopy and electron tunneling spectroscopy. Final report

机译：表面结构和扫描探针显微镜和电子隧道光谱分析。总结报告

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Hsu, Julia;
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年度 1998
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1. Tight-Binding Analysis of Surface Electronic Conduction Measured with Micro-Multipoint Scanning Tunneling Microscopy Probes [J] . Ryoji SUZUKI, Masashi NODA, Tomofumi TADA, Japanese Journal of Applied Physics. Part 1, Regular Papers, Brief Communications & Review Papers . 2006,第3B期

机译：微型多点扫描隧道显微镜探针测量的表面电子传导的紧密结合分析
2. Formation of binary and ternary metal deposits on glass-ceramic carbon electrode surfaces: electron-probe X-ray microanalysis, total-reflection X-ray fluorescence analysis, X-ray photoelectron spectroscopy and scanning electron microscopy study [J] . Nikolai V.Alov, Kirill V.Oskolok Spectrochimica Acta, Part B. Atomic Spectroscopy . 2003,第4期

机译：在玻璃陶瓷碳电极表面上形成二元和三元金属沉积物：电子探针X射线显微分析，全反射X射线荧光分析，X射线光电子能谱和扫描电子显微镜研究
3. Report on the Studies of the Surfaces of Chemical-Vapor-Deposited (CVD) Thin Diamond Films Conducted by Reflection High-Energy Electron Diffraction (RHEED), Atomic Force Microscopy (AFM), and Scanning Tunneling Microscopy (STM) [J] . Tomohide TAKAMI 東北大学科学計測研究所報告 . 2001,第1期

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6. Molecular electronics of a single photosystem I reaction center: studies with scanning tunneling microscopy and spectroscopy. [O] . I Lee, J W Lee, R J Warmack, 1995

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7. Surface structure and analysis with scanning tunneling microscopy and electron tunneling spectroscopy. Progress report, May 1, 1991--April 30, 1992 [O] . R.V. Coleman 1992

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